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超聲掃描顯微鏡(半導體電子元件缺陷檢測)
產品簡介

超聲掃描顯微鏡(半導體電子元件缺陷檢測):滿足不同行業需求,集成電路半導體封裝缺陷,分層檢測,內部結構檢測,斷層檢測。空洞檢測,貼片內部焊接檢測。

產品型號:GSC300
更新時間:2024-06-19
廠商性質:代理商
訪問量:2260
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超聲掃描顯微鏡(半導體電子元件缺陷檢測): 

GSC300超聲掃描顯微鏡應用:
一 、IC塑料封裝:集成電路行業檢測
1.自動識別封裝缺陷
2.封裝分層檢測
3.封裝內部結構、斷層檢測
二 、功率電子器件塑料封裝
1.分層,空洞檢測
2.封裝分層檢測
三 、功率電子裝片、粘片、連續爐焊
1 焊接空洞 壓片翹片、面包片、硅片裂紋
2.粘片質量檢測
3.熱沉焊接質量檢測
四 、金剛石材料缺陷檢測
五 、熔斷器焊接點檢測
銅箔與黃銅的點焊
六 、復合材料內部氣孔斷層檢測
GSC300.jpg

主要配置:
1、龍門式高速直線電機掃描運動臺;
2、主動平衡減震系統;
3、整體焊接框架,提高穩定性;
4、全封閉防護;
5、萬能夾具、一鍵校準、遠程協助;
6、自動上下水及水循環凈化系統。
 
超聲掃描顯微鏡(半導體電子元件缺陷檢測)應用領域
精密器件 ——半導體、集成電路和金剛石等行業高速全檢,適用于理化試驗室或車間現場。

產品參數
1、工作電源:220V/50Hz,3KW;
2、最大掃描范圍: 500mm×330mm×100mm;圖像推薦分辨率:0.5um ~ 4000um;
3、整機尺寸:1000mm×850mm×1000mm;(標配)
4、探頭頻率范圍:1~50MHz;(標配,可升級至230MHz);
5、圖像推薦分辨率:0.5um ~ 4000um;
6、典型掃描耗時:≤30s (測試條件:掃描區域10mmX10mm,分辨率50um);
7、最大掃描速度:1000mm/s;最大掃描加速度:8m/s2;
8、運動臺定位精度:X/Y向<±1um,Z向<±10um;重復定位精度:X/Y向<±0.01mm,Z向<±0.02mm。
9、采樣頻率:25~250MHz;(標配,可升級至1.5GHz);
10、每通道可調增益:-13~66dB;(標配,可升級);脈沖重復頻率:5kHz;(標配,可升級)。

可滿足低壓電器焊接質量檢測、金剛石缺陷和厚度測量、水冷板散熱器檢測、半導體封測等行業需求。



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